光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法

基础信息

标准号：GB/T 31854-2015发布日期：2015-07-03实施日期：2016-03-01上次复审日期：2016-12-31上次复审结论：继续有效标准类别：方法中国标准分类号：H82国际标准分类号：29.045 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门：国家标准委

起草单位

信息产业专用材料质量监督检验中心江苏中能硅业科技发展有限公司国家电子功能与辅助材料质量监督检验中心中国电子技术标准化研究院洛阳中硅高科技有限公司天津市环欧半导体材料技术有限公司

起草人

褚连青王奕徐静王鑫何秀坤裴会川冯亚彬

相近标准(计划)

GB/T 29849-2013 光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法YS/T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法YB/T 4590-2017 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法GB/T 29851-2013 光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法GB/T 29852-2013 光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法YS/T 1755-2025 颗粒硅总金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法YS/T 1601-2023 六氯乙硅烷中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法20240139-T-469 硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法GB/T 37049-2018 电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定电感耦合等离子体质谱法JC/T 2133-2012 半导体抛光液用硅溶胶中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

相关服务热线： 如需《GB/T 31854-2015》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。