氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法
Test method for surface roughness of GaN single crystal substrate by atomic force microscope
基础信息
标准号:GB/T 32189-2015发布日期:2015-12-10实施日期:2016-11-01上次复审日期:2016-12-31上次复审结论:继续有效标准类别:方法中国标准分类号:H21国际标准分类号:77.040 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门:国家标准委
起草单位
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所苏州纳维科技有限公司
起草人
刘争晖钟海舰邱永鑫曾雄辉徐耿钊樊英民王建峰徐科
相近标准(计划)
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