通信用光电子器件可靠性试验方法

基础信息

标准号：GB/T 33768-2017发布日期：2017-05-31实施日期：2017-12-01上次复审日期：2023-12-28上次复审结论：继续有效标准类别：方法中国标准分类号：M31国际标准分类号：33.180.20 归口单位：工业和信息化部（通信）执行单位：工业和信息化部（通信）主管部门：工业和信息化部（通信）

起草单位

武汉烽火科技集团有限公司中国信息通信研究院中兴通讯股份有限公司深圳新飞通光电子技术有限公司

起草人

赵先明宋梦洋罗勇邓智芳赵文玉陈悦江毅龚雪杨春武成宾

相近标准(计划)

YD/T 2342-2011 通信用光电子器件可靠性试验方法GB/T 21194-2007 通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求20233683-T-339 半导体器件 第5-4部分：光电子器件 半导体激光器GB/T 12565-1990 半导体器件光电子器件分规范 （可供认证用）GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件20231204-T-339 半导体器件 第5-13部分：光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验20231576-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法SJ/T 11378.7-2015 等离子体显示器件 第7部分：数字电视机用等离子体显示器件可靠性试验方法20242751-T-339 半导体器件基于感性负载开关应力的氮化镓(GaN)晶体管可靠性试验方法 20231206-T-339 半导体器件 第5-8部分：光电子器件 发光二极管 光电效率测试方法

相关服务热线： 如需《GB/T 33768-2017》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。