硅片字母数字标志规范

基础信息

标准号：GB/T 34479-2017发布日期：2017-10-14实施日期：2018-07-01标准类别：基础中国标准分类号：H80国际标准分类号：29.045 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会主管部门：国家标准委

起草单位

有研半导体材料有限公司浙江省硅材料质量检验中心

起草人

张静孙燕边永智楼春兰

相近标准(计划)

YS/T 986-2014 晶片正面系列字母数字标志规范YS/T 28-2024 硅片包装和标志GY/T 288-2014 电影送审数字母版字幕技术要求GB/T 17971.3-2010 信息技术文本和办公系统的键盘布局第3部分：字母数字区的字母数字分区的补充布局YD/T 907-2011 接入电话网的电话机和其它设备上用于发号的数字、字母和符号规定GB/T 18594-2001 技术产品文件字体拉丁字母、数字和符号的CAD字体GB/T 34951-2017 信息技术 基于数字键盘的锡伯文字母布局GB/T 34957-2017 信息技术 基于数字键盘的朝鲜文字母布局GB/T 34958-2017 信息技术 朝鲜文通用键盘字母数字区的布局GB/T 31921-2015 信息技术基于数字键盘的柯尔克孜文字母布局

相关服务热线： 如需《GB/T 34479-2017》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。