半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

基础信息

标准号：GB/T 11685-2003发布日期：2003-07-07实施日期：2004-01-01上次复审日期：2023-12-28上次复审结论：继续有效全部代替标准：GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988标准类别：方法中国标准分类号：F80国际标准分类号：27.120.01 归口单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会执行单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会通用核仪器和辐射探测器分会主管部门：国家标准委

采标情况

本标准非等效采用IEC国际标准：IEC 60759:1983。采标中文名称:。

起草单位

核工业标准化研究所

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