国标依据

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用液体萃取测定电气绝缘材料离子杂质的试验方法

Methods of test for the determination of ionic impurities in electrical insulating materials by extraction with liquids

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 7196-2012发布日期:2012-12-31实施日期:2013-06-01上次复审日期:2021-12-28上次复审结论:继续有效全部代替标准:GB/T 7196-1987标准类别:方法中国标准分类号:K15国际标准分类号:29.035.99 归口单位:全国电气绝缘材料与绝缘系统评定标准化技术委员会执行单位:全国电气绝缘材料与绝缘系统评定标准化技术委员会主管部门:中国电器工业协会

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60589:1977。采标中文名称:用液体萃取测定电气绝缘材料离子杂质试验方法。

起草单位

桂林电器科学研究院机械工业北京电工技术经济研究所佛山市顺德区质量技术监督标准与编码所

起草人

张波罗传勇周到欧阳丹刘亚丽

相近标准(计划)

JB/T 8630-1997 用差示扫描量热法测定电气绝缘材料的熔融热、熔点及结晶热、结晶温度的试验方法GB/T 10582-2008 电气绝缘材料测定因绝缘材料引起的电解腐蚀的试验方法20242309-T-606 无机化工产品杂质离子的测定离子色谱法NB/T 25097-2018 核电厂用离子交换树脂中金属杂质含量的测定方法YS/T 1768-2025 硅多晶生产用石墨制品表面杂质含量的测定 电感耦合等离子体光谱法QB/T 4339-2012 鞋类 化学试验方法 可萃取重金属含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法YS/T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法YB/T 4590-2017 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法20240953-T-606 化学试剂 杂质测定用标准溶液的制备JC/T 2133-2012 半导体抛光液用硅溶胶中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

相关服务热线: 如需《GB/T 7196-2012》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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