国标依据

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半导体激光测距仪通用技术条件

General specification of semiconductor laser rangefinder

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 29299-2012发布日期:2012-12-31实施日期:2013-06-01上次复审日期:2025-05-30上次复审结论:继续有效标准类别:产品中国标准分类号:L51国际标准分类号:31.260 归口单位:全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会执行单位:全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会主管部门:中国机械工业联合会

起草单位

湖北华中光电科技有限公司湖北富华精密光电有限公司孝感华中精密仪器有限公司

起草人

刘博朱晓旭周泽武程刚张红坤

相近标准(计划)

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相关服务热线: 如需《GB/T 29299-2012》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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