半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
基础信息
标准号:GB/T 19403.1-2003发布日期:2003-11-24实施日期:2004-08-01上次复审日期:2023-12-28上次复审结论:继续有效标准类别:产品中国标准分类号:L56国际标准分类号:31.200 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会执行单位:全国集成电路标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60748-11-1:1992。采标中文名称:。
起草单位
信息产业部第四研究所
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