半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods
基础信息
标准号：GB/T 15651.3-2003发布日期：2003-11-24实施日期：2004-08-01上次复审日期：2023-12-28上次复审结论：继续有效标准类别：方法中国标准分类号：L50国际标准分类号：31.260 归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）
采标情况
本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60747-5-3:1997。采标中文名称:。
起草单位
华禹光谷股份有限公司半导体厂
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