电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8: Test method for microstructure
基础信息
标准号：GB/T 5594.8-2015发布日期：2015-05-15实施日期：2016-01-01上次复审日期：2016-12-31上次复审结论：继续有效全部代替标准：GB/T 5594.8-1985标准类别：方法中国标准分类号：L90国际标准分类号：31-030 归口单位：工业和信息化部（电子）执行单位：工业和信息化部（电子）主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位
中国电子科技集团公司第十二研究所江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司中国电子技术标准化研究院
起草人
江树儒曹易高永泉翟文斌
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