微束分析 扫描电子显微术 术语
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
基础信息
标准号:GB/T 23414-2009发布日期:2009-04-01实施日期:2009-12-01上次复审日期:2025-03-04上次复审结论:修订标准类别:基础中国标准分类号:N33国际标准分类号:37.020;01.040.37 归口单位:全国微束分析标准化技术委员会执行单位:全国微束分析标准化技术委员会主管部门:国家标准委
采标情况
本标准等同采用ISO国际标准:ISO 22493:2008。采标中文名称:微束分析 扫描电子显微术 术语。
起草单位
中国科学院上海硅酸盐研究所
起草人
李香庭曾毅
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