国标依据

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无机化工产品中硅含量测定通用方法 还原硅钼酸盐分光光度法

General method for the determination of silicon content of inorganic chemicals - Reduced molybdosilicate spectrophotometric method

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 23842-2009发布日期:2009-05-18实施日期:2010-02-01上次复审日期:2021-11-23上次复审结论:继续有效标准类别:方法中国标准分类号:G10国际标准分类号:71.060.01 归口单位:全国化学标准化技术委员会执行单位:全国化学标准化技术委员会无机化工分会主管部门:中国石油和化学工业联合会

采标情况

本标准修改采用ISO国际标准:ISO 6382:1981。采标中文名称:测定硅含量的通用方法 还原钼硅酸盐的分光光度法。

起草单位

多氟多化工股份有限公司中海油天津化工研究设计院

起草人

薛旭金范国强李永强

相近标准(计划)

GB/T 17518-2012 化工产品中硅含量测定的通用方法还原硅钼酸盐分光光度法GB/T 223.5-2008 钢铁酸溶硅和全硅含量的测定还原型硅钼酸盐分光光度法GB/T 11213.4-2006 化纤用氢氧化钠硅含量的测定还原硅钼酸盐分光光度法YB/T 4726.4-2021 含铁尘泥硅含量的测定硫酸亚铁铵还原-硅钼蓝分光光度法GB/T 23841-2009 无机化工产品中镉含量测定的通用方法原子吸收分光光度法

相关服务热线: 如需《GB/T 23842-2009》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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