国标依据

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珍珠珠层厚度测定方法 光学相干层析法

Determination of nacre thickness - Optical coherence tomography

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 23886-2009发布日期:2009-06-01实施日期:2010-01-01上次复审日期:2016-12-31上次复审结论:继续有效标准类别:方法中国标准分类号:D59国际标准分类号:39.060 归口单位:全国珠宝玉石标准化技术委员会执行单位:全国珠宝玉石标准化技术委员会主管部门:自然资源部(国土)

起草单位

国家珠宝玉石质量监督检验中心深圳市莫廷影像技术有限公司清华大学

起草人

张蓓莉柯捷沈美冬魏然

相近标准(计划)

DB44/T 653-2009 南珠珍珠层厚度的测定方法GB/T 33051-2016 光学功能薄膜表面硬化薄膜硬化层厚度测定方法DB44/T 396-2012 海水珍珠层粉DB44/T 396-2006 冻水珍珠层粉20172610-T-607 眼科仪器 眼后节光学相干断层扫描仪YY/T 1895-2023 血管内光学相干断层扫描成像设备YS/T 23-2016 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法YS/T 23-1992 硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法YS/T 15-2015 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法YS/T 14-2015 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法

相关服务热线: 如需《GB/T 23886-2009》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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业务领域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试(光谱、能谱、质谱、色谱、核磁、元素、离子等测试服务)、性能测试、成分检测等服务;致力于化学材料、生物医药、医疗器械、半导体材料、新能源、汽车等领域的专业研究,为相关企事业单位提供专业的技术服务。

微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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