表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction
基础信息
标准号：GB/T 25185-2010发布日期：2010-09-26实施日期：2011-08-01上次复审日期：2025-08-06上次复审结论：修订标准类别：方法中国标准分类号：G04国际标准分类号：71.040.40 归口单位：全国表面化学分析标准化技术委员会执行单位：全国表面化学分析标准化技术委员会主管部门：中国科学院
采标情况
本标准等同采用ISO国际标准：ISO 19318:2004。采标中文名称:表面化学 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告。
起草单位
北京师范大学分析测试中心
起草人
吴正龙
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