表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
基础信息
标准号:GB/T 25186-2010发布日期:2010-09-26实施日期:2011-08-01上次复审日期:2025-08-06上次复审结论:修订标准类别:方法中国标准分类号:G04国际标准分类号:71.040.40 归口单位:全国表面化学分析标准化技术委员会执行单位:全国表面化学分析标准化技术委员会主管部门:中国科学院
采标情况
本标准等同采用ISO国际标准:ISO 18114:2003。采标中文名称:表面化学分析 二次离子质谱 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子。
起草单位
信息产业部专用材料质量监督检验中心
起草人
马农农何友琴何秀坤
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