国标依据

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表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 25186-2010发布日期:2010-09-26实施日期:2011-08-01上次复审日期:2025-08-06上次复审结论:修订标准类别:方法中国标准分类号:G04国际标准分类号:71.040.40 归口单位:全国表面化学分析标准化技术委员会执行单位:全国表面化学分析标准化技术委员会主管部门:中国科学院

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 18114:2003。采标中文名称:表面化学分析 二次离子质谱 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子。

起草单位

信息产业部专用材料质量监督检验中心

起草人

马农农何友琴何秀坤

相近标准(计划)

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