无损检测 工业X射线系统焦点特性 第1部分：扫描方法

基础信息

标准号：GB/T 25758.1-2010发布日期：2010-12-23实施日期：2011-10-01上次复审日期：2022-01-14上次复审结论：修订标准类别：方法中国标准分类号：J04国际标准分类号：19.100 归口单位：全国无损检测标准化技术委员会执行单位：全国无损检测标准化技术委员会主管部门：国家标准委

采标情况

本标准等同采用其他国际标准：EN 12543-1:1999。采标中文名称:无损检测 工业X射线系统焦点特性第1部分：扫描方法。

起草单位

上海泰司检测科技有限公司上海材料研究所上海英华无损检测技术有限公司上海诚友实业有限公司等

起草人

孔凡琴李博章怡明金宇飞

相近标准(计划)

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