集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法

基础信息

标准号：GB/T 42968.8-2023发布日期：2023-09-07实施日期：2024-01-01标准类别：方法中国标准分类号：L56国际标准分类号：31.200 归口单位：全国集成电路标准化技术委员会执行单位：全国集成电路标准化技术委员会主管部门：工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62132-8:2012。采标中文名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法。

起草单位

中国电子技术标准化研究院深圳市北测标准技术服务有限公司北京智芯微电子科技有限公司扬芯科技（深圳）有限公司北京无线电计量测试研究所河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司中国合格评定国家认可中心东南大学广东省科学院电子电器研究所联想（北京）有限公司中国电力科学研究院有限公司工业和信息化部电子第五研究所天津先进技术研究院浙江诺益科技有限公司广州市诚臻电子科技有限公司厦门海诺达科学仪器有限公司中国家用电器研究院北京芯可鉴科技有限公司中国汽车工程研究院股份有限公司青岛金汇源电子有限公司西安优来测科技有限公司广州致远电子有限公司

起草人

付君崔强吴建飞乔彦彬杨红波李楠白云张艳艳刘佳陈燕宁黄雪梅郑泓刘易勇贺伟方文啸刘小军郑益民叶畅刘星汛梁吉明朱赛靳冬邵鄂周香李德鹏吕飞燕陈勇志陈梅双

相近标准(计划)

20214711-T-339 集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法GB/T 42968.2-2024 集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法20242740-T-339 集成电路电磁兼容建模 第6部分：集成电路脉冲抗扰度特性仿真模型 传导脉冲抗扰度建模（ICIM-CPI）20240813-T-469 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第2-3部分：无线电骚扰和抗扰度测量方法 辐射骚扰测量20214060-T-339 集成电路 电磁抗扰度测量第3部分：大电流注入（BCI）法20214064-T-339 集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 带状线法20250371-Z-469 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第3部分：无线电骚扰和抗扰度测量技术报告20214061-T-339 集成电路 电磁抗扰度测量第5部分：工作台法拉第笼法GB/T 6113.204-2008 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第2-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量方法抗扰度测量20240814-T-469 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 辐射骚扰测量用天线和试验场地

相关服务热线： 如需《GB/T 42968.8-2023》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。