国标依据

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集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分:非同步瞬态注入法

Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 3: Non-synchronous transient injection method

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 43034.3-2023发布日期:2023-09-07实施日期:2024-01-01标准类别:方法中国标准分类号:L56国际标准分类号:31.200 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会执行单位:全国集成电路标准化技术委员会主管部门:工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62215-3:2013。采标中文名称:集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分:非同步瞬态注入法。

起草单位

中国电子技术标准化研究院广州市诚臻电子科技有限公司工业和信息化部电子第五研究所广州市轰锐电子有限公司中国合格评定国家认可中心北京无线电计量测试研究所北京芯可鉴科技有限公司南京信息工程大学苏州泰思特电子科技有限公司安徽中认倍佳科技有限公司江苏省电子信息产品质量监督检验研究院(江苏省信息安全测评中心)天津先进技术研究院北京智芯微电子科技有限公司浙江诺益科技有限公司深圳市北测标准技术服务有限公司扬芯科技(深圳)有限公司厦门海诺达科学仪器有限公司河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司重庆邮电大学中国家用电器研究院广州广电计量检测股份有限公司安徽省计量科学研究院

起草人

付君崔强乔彦彬朱赛郑益民曾敏雄刘佳杨红波梁吉明陈燕宁万发雨张红升李旸朱崇铭陈梅双吴建飞李楠方文啸叶畅刘小军靳冬刘星汛唐元贵白云褚瑞胡小军亓新陈嘉声王少启

相近标准(计划)

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相关服务热线: 如需《GB/T 43034.3-2023》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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