国标依据

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无损检测仪器 射线数字探测器阵列制造特征

Non-destructive testing instruments—Standard practice for manufacturing characterization of digital detector arrays

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 38240-2019发布日期:2019-10-18实施日期:2020-05-01标准类别:基础中国标准分类号:N78国际标准分类号:19.100 归口单位:全国试验机标准化技术委员会执行单位:全国试验机标准化技术委员会无损检测仪器分会主管部门:中国机械工业联合会

起草单位

中国工程物理研究院应用电子学研究所山东省特种设备研究院济宁分院上海奕瑞光电子科技有限公司

起草人

陈浩王远邱承彬方志强黄凌端申德峰陈云斌胡栋材邱敏金利波

相近标准(计划)

JB/T 11279-2012 无损检测仪器 线阵列涡流探头JB/T 15121-2025 无损检测仪器 X射线数字成像 钢丝子午线轮胎检测系统JB/T 11780-2014 无损检测仪器 阵列涡流检测仪性能和检验JB/T 13150-2017 无损检测仪器 涡流检测仪用变阵列探头GB/Z 41399-2022 无损检测仪器 工业X射线数字成像系统GB/T 36015-2018 无损检测仪器 工业X射线数字成像装置性能和检测规则JB/T 6220-2011 无损检测仪器 射线探伤用密度计JB/T 6215-2011 无损检测仪器 工业X射线管系列型谱JB/T 11234-2011 无损检测仪器 工业软X射线探伤机JB/T 11608-2013 无损检测仪器 工业用X射线探伤装置

相关服务热线: 如需《GB/T 38240-2019》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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