国标依据

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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for gas-tightness

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 5594.1-1985发布日期:1985-11-27实施日期:1986-12-01上次复审日期:2025-07-01上次复审结论:修订标准类别:方法中国标准分类号:L32归口单位:工业和信息化部(电子)执行单位:工业和信息化部(电子)主管部门:工业和信息化部(电子)

起草单位

电子部12所

相近标准(计划)

GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第6部分:化学稳定性测试方法GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分:平均线膨胀系数测试方法GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分:显微结构的测定方法GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第7部分:透液性测定方法GB/T 11320-1989 压电陶瓷材料性能测试方法低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试CB/T 3794-2014 压电陶瓷材料性能测试方法 电极结合强度的测试GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料

相关服务热线: 如需《GB/T 5594.1-1985》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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