国标依据

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光电跟踪测量设备通用规范

General specification for photoelectric tracking and measuring equipment

国家标准 推荐性

基础信息

标准号:GB/T 32525-2016发布日期:2016-02-24实施日期:2016-09-01上次复审日期:2023-12-28上次复审结论:继续有效标准类别:基础中国标准分类号:N33国际标准分类号:17.180.30 归口单位:全国空间科学及其应用标准化技术委员会执行单位:全国空间科学及其应用标准化技术委员会空间光学有效载荷检测与试验技术分会主管部门:中国科学院

起草单位

中国科学院西安光学精密机械研究所

起草人

田留德赵建科郝伟薛勋赵怀学马彩文周艳任珊红段炯

相近标准(计划)

GB/T 35437-2017 星载光电跟踪成像系统通用规范20253468-T-469 产品几何技术规范(GPS) 测量设备通用概念和要求GB/T 45798-2025 光电测量 激光跟踪测量系统性能检测方法20241599-T-604 电能测量设备 嵌入式软件 通用要求 JB/T 14252-2022 交流电测量设备现场测试仪通用技术规范NB/T 11132-2023 采煤机尘源跟踪喷雾降尘系统通用技术条件20231172-T-604 直流电能测量设备 第1部分:通用要求GB/T 17215.211-2021 电测量设备(交流) 通用要求、试验和试验条件 第11部分:测量设备JB/T 8254-1995 通用摄影光电曝光表JB/T 8254-1999 通用摄影光电曝光表

相关服务热线: 如需《GB/T 32525-2016》相关的服务,可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国,专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。

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微析研究所是先进材料科学、环境环保、生物医药研发及CMC药学研究、一般消费品质量服务、化妆品研究服务、工业品服务和工程质量保证服务的全球检验检测认证 (TIC)服务提供者。微析研究所提供超过25万种分析方法的组合,为客户实现产品或组织的安全性、合规性、适用性以及持续性的综合检测评价服务。

十多年的专业技术积累

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服务众多客户解决技术难题

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每年出具十余万+份技术报告

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2500+名专业技术人员

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