光学系统 参数的测定

基础信息

标准号：GB/T 10987-2009发布日期：2009-09-30实施日期：2009-12-01上次复审日期：2025-07-01上次复审结论：修订全部代替标准：GB/T 10987-1989标准类别：方法中国标准分类号：N35国际标准分类号：37.020 归口单位：全国光学和光子学标准化技术委员会执行单位：全国光学和光子学标准化技术委员会主管部门：中国机械工业联合会

起草单位

上海理工大学宁波永新光学股份有限公司南京江南永新光学有限公司苏州一光仪器有限公司

起草人

冯琼辉章慧贤

相近标准(计划)

20252507-T-604 光学系统 参数的测定GB/T 27667-2011 光学系统像质评价畸变的测定20252506-T-604 光学系统像质测试方法GB/T 44221-2024 光学系统波前像差的测定夏克-哈特曼光电测量法20240137-T-469 蓝宝石图形化衬底表面图形几何参数的测定方法20240969-T-606 数字印刷材料 阳图热敏CTP版 成像性能参数的测定MH/T 4056—2024 数字化塔台光学系统技术要求SY/T 6107-2020 油藏热物性参数的测定方法SY/T 6107-2010 油藏热物性参数的测定方法JB/T 8389-2001 放映银幕特性参数的测定方法

相关服务热线： 如需《GB/T 10987-2009》相关的服务，可直接联系。 微析检测业务区域覆盖全国，专注为高分子材料、金属、半导体、汽车、医疗器械等行业提供大型仪器测试、性能测试、成分检测等服务。